背景介紹

透射電子顯微鏡（TEM）是一種精密的亞納米分辨率成像技術，因其超高的時間和空間分辨率，在化學、材料及其他相關科學領域有著廣泛應用。然而傳統TEM的使用存在局限性，由于腔室的真空環境，以銅（Cu）網格上的碳膜作為樣品載體，僅限于薄、穩定和固體樣品。液體樣品，特別是高平衡蒸氣壓的樣品，是真空不兼容的，因此無法在傳統TEM中直接探測。

現代微納加工技術的迅速發展突破了這一局限，衍生出基于液體芯片的原位TEM技術。如超高分辨率的石墨烯液體池，氮化硅窗口液體池以及用途各異的功能化液體池（流動液體池、加熱液體池、電化學液體池等）。這些原位技術是完善實驗過程監測、剖析機理、研究材料構效關系，進一步提升材料性能的有力手段。

原位科技憑借其深厚的科研背景和技術積累，現成功推出全新產品：原位液相透射電鏡樣品池。

產品介紹

采用兩片高強度鈦合金作為樣品槽的上下蓋板，搭配全氟醚O圈輔助密封，同時選用兩個氮化硅芯片充當液體池，在氮化硅膜中封裝液體，來實現透射電鏡中的液體樣品觀測。

功能特色

① 將液體樣品封閉在密閉空間內，從而將其與顯微鏡真空環境分離。

② 通過使用兩個電子透明的氮化硅膜（SiNx）窗口將液體樣品限制在液體層中，該窗口足夠薄，使得電子可以穿過液體層并對反應成像。

性能指標

① 兼容性：兼容TEM真空度。

② 液體池間隔層厚度：最小100 nm。

③ 載樣能力：可載入液體樣品。

④ 承載壓力：池內可承載1個大氣壓。

⑤ 真空適應性：池外滿足電鏡真空要求。

應用案例

聚苯乙烯嵌段聚（丙烯酸）（PSPAA）的TEM原位成像

鈣鈦礦的TEM原位成像

動態展示

高分子聚合物自組裝成空心結構的過程

備注：應用案例中使用透射電鏡型號為JEM1400Flash；氮化硅芯片的厚度為200?，氮化硅膜窗口尺寸為0.5*0.5 mm，膜厚度為50 nm；液體模式為靜態，液體厚度可通過載入量來控制。